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納米熱分析模塊（NanoTA）是利用探針對(duì)樣品加熱從而得到掃描熱顯微鏡圖像的分析儀器。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過(guò)擴(kuò)展多種模塊實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別空間分辨率基礎(chǔ)上的熱力學(xué)、力學(xué)、電學(xué)和磁學(xué)分析的強(qiáng)大儀器系統(tǒng)，其中，納米熱分析模塊（簡(jiǎn)稱(chēng)NanoTA）就是一種熱力學(xué)分析儀器。
瑞宇科技的納米熱分析模塊使用具有特別技術(shù)的耐高溫特種探針可實(shí)現(xiàn)探針自加熱，對(duì)樣品表面的微區(qū)進(jìn)行加熱，樣品表面微區(qū)加熱后發(fā)生熱膨脹，使得探針信號(hào)偏轉(zhuǎn)，當(dāng)樣品達(dá)到臨界溫度時(shí)會(huì)發(fā)生軟化，從而造成探針偏轉(zhuǎn)信號(hào)突變，進(jìn)而獲得樣品的轉(zhuǎn)變點(diǎn)溫度。
利用這一功能，使用瑞宇科技的納米熱分析模塊能夠得到樣品的熔融點(diǎn)溫度、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度及特定區(qū)域的溫度掃描成像圖，能夠提供異質(zhì)材料如共混物/混合物/多層膜的局部熱分析鑒定，從而為研究人員提供更全面的分析信息。
瑞宇科技的納米熱分析模塊可與原子力顯微鏡結(jié)合實(shí)現(xiàn)掃描熱顯微鏡（SThM）功能，從而允許納米級(jí)相對(duì)溫度成像或熱傳導(dǎo)率成像，
PA6PET共混物的微區(qū)納米熱分析
主要參數(shù)：
工作溫度：室溫～400℃（取決于探針）
升溫速錄：最高600000℃/min
溫度分辨率：0.1℃
空間分辨率：10nm～100nm
應(yīng)用：
材料研究
有機(jī)物及生物材料研究
聚合物多相分離研究
晶體突變研究
事故原因分析
界面微區(qū)研究
催化劑研發(fā)
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